MLINFO COLLECTION

外観検査・欠陥検出

製品画像、顕微鏡画像、表面欠陥を対象に、分類・検出・セグメンテーションを選ぶための導線です。

関連する論文・実装

48 / 54
arxiv

Pareto Inefficiency of EFX

We consider the problem of allocating indivisible goods to agents with additive valuations, under two classic notions of fairness and efficiency: envy-freeness up to any good (EFX) and Pareto…

computer-vision